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化学成分以及辐照条件对压力容器钢中子辐照损伤的影响 被引量:5
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作者 黄鹤飞 RADIGUET Bertrand PAREIGE Philippe 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第23期106-112,共7页
在核电站反应堆中,压力容器作为压水堆的第二道安全屏障,在压水堆安全运行和防止核泄漏方面发挥着极为重要的作用。反应堆内的中子辐照会引起压力容器钢微观结构的变化,进而降低其力学性能,影响核反应堆的安全。总结了中子辐照下压力容... 在核电站反应堆中,压力容器作为压水堆的第二道安全屏障,在压水堆安全运行和防止核泄漏方面发挥着极为重要的作用。反应堆内的中子辐照会引起压力容器钢微观结构的变化,进而降低其力学性能,影响核反应堆的安全。总结了中子辐照下压力容器钢及其模型合金中形成的缺陷,并进一步综述了化学成分和中子辐照条件,包括铜、镍、磷、锰、硅和铬等元素,中子注量以及中子注量率等参数对压力容器钢中子辐照损伤的影响。 展开更多
关键词 压力容器钢缺陷 中子辐照损伤化学成分 中子注量 中子注量率
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Ageing of GaN HEMT devices: which degradation indicators? 被引量:1
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作者 A. Divay O. Latry +1 位作者 C. Duperrier F. Temcamani 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2016年第1期34-37,共4页
A following of diverse degradation indicators during the ageing in operational conditions of A1- GaN/GaN HEMTs (high electron mobility transistors) is proposed. Measurements of pulsed I-V, Schottky barrier height, R... A following of diverse degradation indicators during the ageing in operational conditions of A1- GaN/GaN HEMTs (high electron mobility transistors) is proposed. Measurements of pulsed I-V, Schottky barrier height, RF output power and gate current versus output power during the early phase of the ageing test (2000 h on a 6000 h total) are presented. These preliminary results give insight on some of the principal degradation indicators that are interesting to follow during an ageing test close to operational conditions on such components. 展开更多
关键词 GAN HEMT ageing tests reliability
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