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基于微系统技术的NIR光谱仪——采用微系统技术降低NIR近红外光谱仪的成本
1
作者
Alexander Wolter
Heinrich Gruger
Andreas Kenda
《流程工业》
2008年第5期72-72,74,共2页
带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件,它具有检测速度快且坚固耐用的特点,但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案,它采用振荡的微系统技术,避免使用价格昂贵的...
带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件,它具有检测速度快且坚固耐用的特点,但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案,它采用振荡的微系统技术,避免使用价格昂贵的光电二极管。
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关键词
近红外光谱仪
微系统技术
NIR
光电二极管
成本
检测监控
流程分析
光栅技术
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职称材料
题名
基于微系统技术的NIR光谱仪——采用微系统技术降低NIR近红外光谱仪的成本
1
作者
Alexander Wolter
Heinrich Gruger
Andreas Kenda
机构
hiperscan有限责任公司
霍伦霍夫研究所
CTR股份
公司
出处
《流程工业》
2008年第5期72-72,74,共2页
文摘
带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件,它具有检测速度快且坚固耐用的特点,但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案,它采用振荡的微系统技术,避免使用价格昂贵的光电二极管。
关键词
近红外光谱仪
微系统技术
NIR
光电二极管
成本
检测监控
流程分析
光栅技术
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
S565.4 [农业科学—作物学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于微系统技术的NIR光谱仪——采用微系统技术降低NIR近红外光谱仪的成本
Alexander Wolter
Heinrich Gruger
Andreas Kenda
《流程工业》
2008
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