期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于微系统技术的NIR光谱仪——采用微系统技术降低NIR近红外光谱仪的成本
1
作者 Alexander Wolter Heinrich Gruger Andreas Kenda 《流程工业》 2008年第5期72-72,74,共2页
带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件,它具有检测速度快且坚固耐用的特点,但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案,它采用振荡的微系统技术,避免使用价格昂贵的... 带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件,它具有检测速度快且坚固耐用的特点,但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案,它采用振荡的微系统技术,避免使用价格昂贵的光电二极管。 展开更多
关键词 近红外光谱仪 微系统技术 NIR 光电二极管 成本 检测监控 流程分析 光栅技术
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部