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纳米电子时代可靠性研究的挑战
1
作者
Way Kuo
沈岭(译)
任立明(校)
《质量与可靠性》
2006年第6期53-54,59,共3页
关键词
纳米时代
可靠性
电子时代
制造技术
跨学科
下载PDF
职称材料
题名
纳米电子时代可靠性研究的挑战
1
作者
Way Kuo
沈岭(译)
任立明(校)
机构
ieee可靠性学报
中国航天标准化研究所
出处
《质量与可靠性》
2006年第6期53-54,59,共3页
关键词
纳米时代
可靠性
电子时代
制造技术
跨学科
分类号
TB383.1 [一般工业技术—材料科学与工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
纳米电子时代可靠性研究的挑战
Way Kuo
沈岭(译)
任立明(校)
《质量与可靠性》
2006
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