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Internal Defect Measurement of Scattering Media by Optical Coherence Microscopy
1
作者
ZHUYong-kai
ZHAOHong
+1 位作者
WANGZhao
WANGJun-li
《Semiconductor Photonics and Technology》
CAS
2005年第2期142-144,共3页
关键词
光学显微术
散射质
内部缺陷
表面光洁度
下载PDF
职称材料
题名
Internal Defect Measurement of Scattering Media by Optical Coherence Microscopy
1
作者
ZHUYong-kai
ZHAOHong
WANGZhao
WANGJun-li
机构
InstituteofLaserandInfraredApplication
insitituteofmodernphysics
InstituteofLaserandInfraredApplication
出处
《Semiconductor Photonics and Technology》
CAS
2005年第2期142-144,共3页
基金
National Natural Science Foundation of China(60077031)
关键词
光学显微术
散射质
内部缺陷
表面光洁度
Keywords
optical coherence microscopy
scattering media
internal defect
分类号
TN247 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Internal Defect Measurement of Scattering Media by Optical Coherence Microscopy
ZHUYong-kai
ZHAOHong
WANGZhao
WANGJun-li
《Semiconductor Photonics and Technology》
CAS
2005
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