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光器件的回损测量
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作者 孙景群 《电信技术》 2012年第7期95-97,共3页
1 概述 自光纤通信系统出现就有了光纤无源器件的回损测试方案,早期的典型测试仪表包括JDSU公司的RXMeter、Agilent公司的816xx系列等。
关键词 回损 光器件 Agilent公司 测量 光纤无源器件 光纤通信系统 测试方案 测试仪表
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