电阻温度检测器(RTD)

无论是采用2线、3线还是4线配置，RTD都证明是一种稳定而又精确的测温器件，但也最昂贵。了解RTD的优点与缺点，有助于您进行温度测量决策。

晶圆级可靠性测试成为器件和工艺开发的关键步骤

随着器件尺寸的持续减小，以及在器件的制造中不断使用新材料，对晶圆级可靠性测试的要求越来越高，在器件研发过程中这些发展也对可靠性测试和建模也提出了新的要求，为了满足这些挑战需要开发更快、更敏感、更具灵活性的可靠性测试工具。

利用霍尔效应纵断面描绘法测量半导体的载流子浓度和迁移率(英文)

差分霍尔效应纵断面描绘是表征半导体分层特性的重要手段。本文着重介绍它的原理、系统设计、测量结果及实际应用。

脉冲测量技术越过高K材料电荷捕获的壁垒

由于高介电常数的栅电路结构在俘获电荷机制上存在负面影响,常规的直流量测技术已经捉襟见肘了。脉冲电流-电压量测技术能够彻底解决这一难题,从而得到高介电常数栅电路结构晶体管的本征电学表现。

软件定义无线电:射频测试仪器的下一波趋势

测试设备制造商面临持续不断的挑战．必须开发各种新型解决方案来测试客户的最新组件，业者以往都是开发专属的硬件来因应这方面的挑战：通信市场由于各种新标准快速推陈出新．更需要新的刺激与更强的量测功能。为配合业界发展的脚步，测试设备厂商必须研究各种新的方法．以缩短仪器开发的时间．并让仪器能因应各种新的要求。软件定义无线电是其中一种有效的解决技术。

新测试仪器加速电信产品的测试

但是。

测试工具的革新

为了减少测试台上各种眼花缭乱的复杂工具,一场测试工具的革新运动正在悄然进行,测试台的空间更加宽裕的关键在于增大测试工具的功能密度。

产品测试灵活的一体化解决方案

无论一般目的还是特定的测量、测试系统,都已经发展到适合于用PC机进行测试。三种最通用的测试系统结构是台式仪器、数据记录仪/图形记录仪和PC插卡式数据采集系统。 对市场需求的调查表明,一种系统结构与另一种结构的交叉应用已非常之多。