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应用于倒装芯片的铜钉头凸点技术
1
作者
Lee Levine
Arun Chaudhuri
Frank Stepniak
《集成电路应用》
2006年第8期41-44,共4页
铜钉头凸点技术可以为中低I/O密度的器件提供成本最低的倒装芯片封装。
关键词
倒装芯片封装
凸点
铜钉
I/O
器件
下载PDF
职称材料
题名
应用于倒装芯片的铜钉头凸点技术
1
作者
Lee Levine
Arun Chaudhuri
Frank Stepniak
机构
kulicke & sofia industries inc.
Delphi Electronics & Safety
出处
《集成电路应用》
2006年第8期41-44,共4页
文摘
铜钉头凸点技术可以为中低I/O密度的器件提供成本最低的倒装芯片封装。
关键词
倒装芯片封装
凸点
铜钉
I/O
器件
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
应用于倒装芯片的铜钉头凸点技术
Lee Levine
Arun Chaudhuri
Frank Stepniak
《集成电路应用》
2006
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