丝阵靶箍缩等离子体软X射线辐射能谱研究

在S—300装置上研究了丝阵靶Z箍缩等离子体的软X射线辐射的动态过程。利用多通道X射线谱仪在50～2000eV范围内测量了丝阵靶内爆等离子体X射线辐射谱,辐射主要位于60～220eV谱段。辐射谱可用温度为40～50eV的Planck黑体谱近似描述。在能量高于500eV的谱段,辐射谱与Planck黑体谱有较大的偏离。这主要是因为等离子体热斑的出现、在1.5～2keV范围内线谱的存在和加速电子轫致辐射的结果。