期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
功率Trench MOS器件工业化技术的新进展 被引量:1
1
作者 曾军 M N Darwish R A Blanchard 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2012年第12期18-21,共4页
简要地回顾和探讨了垂直型功率Trench金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET)器件(即Trench MOS)的技术发展及其当前工业化生产水平。重点讨论了适用于工业界大规模生产的,能同时降低正向导通损耗和瞬态开关损耗的器件结构和制造工艺,并举... 简要地回顾和探讨了垂直型功率Trench金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET)器件(即Trench MOS)的技术发展及其当前工业化生产水平。重点讨论了适用于工业界大规模生产的,能同时降低正向导通损耗和瞬态开关损耗的器件结构和制造工艺,并举例给出了目前工业界最先进30 V Trench MOS产品综合技术指标(FOM)的比较。最后,讨论了沟槽技术在基于SiC材料的功率MOSFET器件生产中的应用。 展开更多
关键词 金属氧化层半导体场效晶体管 工业化技术 综合技术指标
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部