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功率Trench MOS器件工业化技术的新进展
被引量:
1
1
作者
曾军
M N Darwish
R A Blanchard
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
2012年第12期18-21,共4页
简要地回顾和探讨了垂直型功率Trench金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET)器件(即Trench MOS)的技术发展及其当前工业化生产水平。重点讨论了适用于工业界大规模生产的,能同时降低正向导通损耗和瞬态开关损耗的器件结构和制造工艺,并举...
简要地回顾和探讨了垂直型功率Trench金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET)器件(即Trench MOS)的技术发展及其当前工业化生产水平。重点讨论了适用于工业界大规模生产的,能同时降低正向导通损耗和瞬态开关损耗的器件结构和制造工艺,并举例给出了目前工业界最先进30 V Trench MOS产品综合技术指标(FOM)的比较。最后,讨论了沟槽技术在基于SiC材料的功率MOSFET器件生产中的应用。
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关键词
金属氧化层半导体场效晶体管
工业化技术
综合技术指标
下载PDF
职称材料
题名
功率Trench MOS器件工业化技术的新进展
被引量:
1
1
作者
曾军
M N Darwish
R A Blanchard
机构
maxpower semiconductor corp.
出处
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
2012年第12期18-21,共4页
文摘
简要地回顾和探讨了垂直型功率Trench金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET)器件(即Trench MOS)的技术发展及其当前工业化生产水平。重点讨论了适用于工业界大规模生产的,能同时降低正向导通损耗和瞬态开关损耗的器件结构和制造工艺,并举例给出了目前工业界最先进30 V Trench MOS产品综合技术指标(FOM)的比较。最后,讨论了沟槽技术在基于SiC材料的功率MOSFET器件生产中的应用。
关键词
金属氧化层半导体场效晶体管
工业化技术
综合技术指标
Keywords
metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
industrialization technology
figure of merit
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
功率Trench MOS器件工业化技术的新进展
曾军
M N Darwish
R A Blanchard
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
2012
1
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