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利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热
1
作者
Milind Gupta
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010年第3期62-62,共1页
本文提出了一种预NIC热性能的方法。这些信息对于汽车及其它高温环境下使用的PMIC(电源管理IC)尤为有用。通过分析热性能,我们设计了一种数学模型用于仿真芯片内部的瞬态温度。并引入了关于热性能的物理定律,用于评估IC的发热模型...
本文提出了一种预NIC热性能的方法。这些信息对于汽车及其它高温环境下使用的PMIC(电源管理IC)尤为有用。通过分析热性能,我们设计了一种数学模型用于仿真芯片内部的瞬态温度。并引入了关于热性能的物理定律,用于评估IC的发热模型。基于这些分析,我们提出了一种等效的无源RC网络,用于仿真IC瞬态热性能的模型。
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关键词
PMIC
热分析
仿真
MAX16828
原文传递
题名
利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热
1
作者
Milind Gupta
机构
maxim公司系统和电源管理部
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010年第3期62-62,共1页
文摘
本文提出了一种预NIC热性能的方法。这些信息对于汽车及其它高温环境下使用的PMIC(电源管理IC)尤为有用。通过分析热性能,我们设计了一种数学模型用于仿真芯片内部的瞬态温度。并引入了关于热性能的物理定律,用于评估IC的发热模型。基于这些分析,我们提出了一种等效的无源RC网络,用于仿真IC瞬态热性能的模型。
关键词
PMIC
热分析
仿真
MAX16828
分类号
TN86 [电子电信—信息与通信工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热
Milind Gupta
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010
0
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