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Four-probe scanning tunnelling microscope with atomic resolution for electrical and electro-optical property measurements of nanosystems
1
作者
林晓
贺晓波
+4 位作者
路军岭
高利
郇庆
时东霞
高鸿钧
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2005年第8期1536-1543,共8页
下载PDF
职称材料
题名
Four-probe scanning tunnelling microscope with atomic resolution for electrical and electro-optical property measurements of nanosystems
1
作者
林晓
贺晓波
路军岭
高利
郇庆
时东霞
高鸿钧
机构
nanoscalephysicsanddeviceslaboratory
出处
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2005年第8期1536-1543,共8页
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
Four-probe scanning tunnelling microscope with atomic resolution for electrical and electro-optical property measurements of nanosystems
林晓
贺晓波
路军岭
高利
郇庆
时东霞
高鸿钧
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2005
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