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受激光辐照而局部晶化的新型多晶硅TFT
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作者 Jae-Hongjeon 刘镇国 《现代显示》 1998年第1期13-17,共5页
提出一种新型多晶硅TFT结构,它在沟道中设置了高阻的非晶硅区,从而有效地减小了漏电流。这种新器件的有源层被局部晶化,而沟道区中与源极相邻的两个边界层未被晶化,保持非晶硅态。在制造新器件时不需要附加光刻工序,也不存在失... 提出一种新型多晶硅TFT结构,它在沟道中设置了高阻的非晶硅区,从而有效地减小了漏电流。这种新器件的有源层被局部晶化,而沟道区中与源极相邻的两个边界层未被晶化,保持非晶硅态。在制造新器件时不需要附加光刻工序,也不存在失调(misaling)问题。由于采用了透明的ITO栅,增大了开口率,这也是新器件的另一优点。 展开更多
关键词 局部晶化 多晶硅TFT 薄膜晶体管
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