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新技术为微控制器测试开路
1
作者
Ian Lawee
田中成
郭世泽
《电子测试》
1998年第7期8-10,共3页
近年来,微控制器市场发生了变化。微控制器被广泛用于从玩具到电子产品,汽车等各类产品中。
关键词
微控制器
测试
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
新技术为微控制器测试开路
1
作者
Ian Lawee
田中成
郭世泽
机构
teradyne公司集成测试部
出处
《电子测试》
1998年第7期8-10,共3页
文摘
近年来,微控制器市场发生了变化。微控制器被广泛用于从玩具到电子产品,汽车等各类产品中。
关键词
微控制器
测试
集成电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP332.306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
新技术为微控制器测试开路
Ian Lawee
田中成
郭世泽
《电子测试》
1998
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